NY-407CRDR低對比度細節(jié)檢測模體

產品簡介

 用于拍片、數(shù)字X射線成像系統(tǒng)和透視系統(tǒng)檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態(tài)范圍和圖像一致性等項目。

主要技術參數(shù)：

1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm

2、基板厚度1.5mm，300x300mm

3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb

4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態(tài)范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區(qū)13個，精度0.005mm

5、確定輻射野大小和位置的標記

NY-407CRDR低對比度細節(jié)檢測模體

產品簡介

 用于拍片、數(shù)字X射線成像系統(tǒng)和透視系統(tǒng)檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態(tài)范圍和圖像一致性等項目。

主要技術參數(shù)：

1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm

2、基板厚度1.5mm，300x300mm

3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm，0.1mmPb

4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔，范圍0.5-7.6%，精度0.01mm動態(tài)范圍17個銅階，范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區(qū)13個，精度0.005mm

5、確定輻射野大小和位置的標記